Name: Gold Plated Ultra-Fine Precision Spring Test Probe with Customizable Tip Styles for BGA Testing and Semiconductor Applications
Brand: SICHUAN WINNER SPECIAL ELECTRONIC MATERIALS CO., LTD.
Price: 999 USD
Availability: InStock

Дом > продукты > Пробные зонды весеннего испытания >

Gold Plated Ultra-Fine Precision Spring Test Probe with Customizable Tip Styles for BGA Testing and Semiconductor Applications

Gold Plated Spring Test Probe

Ultra-Fine Precision BGA Testing Probe

Customizable Tip Styles Semiconductor Test Pin

Место происхождения:

Китай

Фирменное наименование:

WINNER

Сертификация:

ISO9100

Свяжитесь мы

Спросите цитату

Gold Plated Ultra-Fine Precision Spring Test Probe with Customizable Tip Styles for BGA Testing and Semiconductor Applications

Детали продукта

Название продукта:

пружинный тестовый зонд

ствол:

ПБ, Позолоченный

Нижний поршень:

BeCu/SK4, позолоченный

ТОП Плунжер:

Pd сплав/без покрытия

ВЕСНА:

SWPB(SUS)/позолоченный

Доступность:

Пользовательские размеры доступны

Покрытие:

Золото

Текущий рейтинг:

Контактное сопротивление:

100 МОм максимум

Пропускная способность:

-0,17 дБ при 19,6 ГГц

индуктивность:

1,25 нГн

Каптанс:

1,61пФ

Полный удар:

1,00 мм

Номинальный ход:

0,65 мм

Сила пружины:

30 грамм при диаметре 65 мм

Механический срок службы превышает:

200k

Выделить:

Gold Plated Spring Test Probe

Ultra-Fine Precision BGA Testing Probe

Customizable Tip Styles Semiconductor Test Pin

Условия оплаты & доставки

Количество мин заказа

3000 шт

Цена

999

Упаковывая детали

Нейтриальная упаковка или с логотипом OEM

Время доставки

5-8 рабочих дней

Условия оплаты

Л/К, Вестерн Юнион, Т/Т

Поставка способности

100000 рулонов в месяц

СОБЩЕННЫЕ ПРОДУКТЫ

Gold Plated Ultra-Fine Precision Spring Test Probe with Customizable Tip Styles for BGA Testing and Semiconductor Applications

Получите самую лучшую цену

China Supplier ICT test probe P048

Получите самую лучшую цену

CHINA Supply YF-100 Brass Material Spring Contact Probe Pin

Получите самую лучшую цену

Прямая цена от производителя пружинных испытательных зондов

Получите самую лучшую цену

Свяжитесь мы

Контакт теперь

Характер продукции

High Efficiency BGA Testing Probes

Precision spring-loaded semiconductor test pins designed for reliable performance in demanding testing applications.

Key Product Features

Ultra-Fine Precision: 0.11 mm plunger and 0.15 mm barrel for micro-pitch PCB pads, IC leads, flex circuits, and semiconductor testing
High Conductivity Gold Plating: Gold-plated plunger and barrel ensure low contact resistance and stable signal transmission
Multiple Tip Styles: Available in B tip (60° cone), U tip, D tip, and fully customized geometries
Durable Spring Structure: Stainless steel spring (SUS material) provides stable working stroke and reliable contact force
Custom Manufacturing: OEM/ODM accepted with fast delivery from our factory

Production Specifications

Product Images

Detailed Component Illustration

Comparison of different test probe tip types and configurations

Customization Options

SICHUAN WINNER SPECIAL ELECTRONIC MATERIALS CO., LTD. offers comprehensive customization for our brass barrel stainless steel spring test probes:

Custom diameters to match your specific requirements
Custom plating thicknesses for optimal conductivity and durability
Custom mechanical specifications tailored to your application

All products include material traceability documentation and certificate of analysis for quality assurance. Contact us to request samples or a quotation for your specific application requirements.

Manufacturing Process

Our probe manufacturing facility

Quality control inspection

Packaged probes ready for shipment

Бирки：

Gold Plated Ultra-Fine Precision Spring Test Probe with Customizable Tip Styles for BGA Testing and Semiconductor Applications

Gold Plated Spring Test Probe

Ultra-Fine Precision BGA Testing Probe

Customizable Tip Styles Semiconductor Test Pin

Gold Plated Spring Test Probe

Ultra-Fine Precision BGA Testing Probe

Customizable Tip Styles Semiconductor Test Pin

Gold Plated Ultra-Fine Precision Spring Test Probe with Customizable Tip Styles for BGA Testing and Semiconductor Applications

China Supplier ICT test probe P048

CHINA Supply YF-100 Brass Material Spring Contact Probe Pin

Прямая цена от производителя пружинных испытательных зондов

Электроника из позолоченной вольфрамовой проволоки

0.01 мм вольфрамовой проволоки

Электроника из молибденовой проволоки