Name: 5A 2.03 MM Outer Diameter GKS-003 Pitch Gold-plated Test Probe with BeCu Plunger and Brass Barrel
Brand: SICHUAN WINNER SPECIAL ELECTRONIC MATERIALS CO., LTD.
Price: 999 USD
Availability: InStock

Дом > продукты > Пробные зонды весеннего испытания >

5A 2.03 MM Outer Diameter GKS-003 Pitch Gold-plated Test Probe with BeCu Plunger and Brass Barrel

5A Test Probe

2.03 MM Outer Diameter Spring Test Probe

GKS-003 Pitch PCB Test Probe

Место происхождения:

Китай

Фирменное наименование:

WINNER

Сертификация:

ISO9100

Свяжитесь мы

Спросите цитату

5A 2.03 MM Outer Diameter GKS-003 Pitch Gold-plated Test Probe with BeCu Plunger and Brass Barrel

Детали продукта

Название продукта:

тестовый зонд стандартного размера

Плунжер:

По -прежнему

ствол:

Латунь

Весна:

Нержавеющая сталь

Доступность:

Пользовательские размеры доступны

Покрытие:

Золото

минимальный заказ:

100 шт.

Выделить:

5A Test Probe

2.03 MM Outer Diameter Spring Test Probe

GKS-003 Pitch PCB Test Probe

Условия оплаты & доставки

Количество мин заказа

1 шт.

Цена

999

Упаковывая детали

Нейтриальная упаковка или с логотипом OEM

Время доставки

5-8 рабочих дней

Условия оплаты

Л/К, Вестерн Юнион, Т/Т

Поставка способности

100000 рулонов в месяц

СОБЩЕННЫЕ ПРОДУКТЫ

Spring Plungers Test Probe Brass Pogo Pin For PCB Dock Adapter Keyboard Battery Charger

Получите самую лучшую цену

Customized Gold Plated Becu electronic test probe pcb circuit boards test needle

Получите самую лучшую цену

Customized 1.0mm Pitch 0.75mm Mounting Hole 2.0mm Full Travel Spring Test Probe for PCB & ICT Testing

Получите самую лучшую цену

Customized Gold Plated Spring Test Probe with 1.90mm Pitch and 1.35mm/1.40mm Mounting Hole for PCB ICT Testing

Получите самую лучшую цену

Свяжитесь мы

Контакт теперь

Характер продукции

5A Test Probe GKS003

Outer Diameter 2.03 MM gold-plated testing needle with SK4 telescopic spring for ICT applications. Model: GKS-003 Pitch.

Product Specifications

Test Probe Selection Guide

Test probes are available from many manufacturers with similar constraints. When selecting a test probe receptacle, the tip choice is the most critical consideration.