Name: Gold Plated Spring Test Probe with 9mm Total Length 6.5mm Tube Length and 2.5mm Needle for PCB Testing
Brand: SICHUAN WINNER SPECIAL ELECTRONIC MATERIALS CO., LTD.
Price: 999 USD
Availability: InStock

Дом > продукты > Пробные зонды весеннего испытания >

Gold Plated Spring Test Probe with 9mm Total Length 6.5mm Tube Length and 2.5mm Needle for PCB Testing

9mm Total Length Spring Test Probe

6.5mm Tube Length Pogo Pin

2.5mm Needle PCB Test Pin

Место происхождения:

КИТАЙ

Фирменное наименование:

WINNER

Сертификация:

ISO9100

Свяжитесь мы

Спросите цитату

Gold Plated Spring Test Probe with 9mm Total Length 6.5mm Tube Length and 2.5mm Needle for PCB Testing

Детали продукта

Название продукта:

Испытательный зонд

Гарантия:

12 месяцев, 1 год

OEM/ODM:

Приветственный заказ

Продукт:

В наличии

Доступность:

Пользовательские размеры доступны

Покрытие:

Золото

Длина метров:

500/1000

Выделить:

9mm Total Length Spring Test Probe

6.5mm Tube Length Pogo Pin

2.5mm Needle PCB Test Pin

Условия оплаты & доставки

Количество мин заказа

1 шт

Цена

999

Упаковывая детали

Нейтриальная упаковка или с логотипом OEM

Время доставки

5-8 рабочих дней

Условия оплаты

L/C, Western Union, T/T.

Поставка способности

100000 рулонов в месяц

СОБЩЕННЫЕ ПРОДУКТЫ

Gold Plated Spring Test Probe with 9mm Total Length 6.5mm Tube Length and 2.5mm Needle for PCB Testing

Получите самую лучшую цену

Позолоченные пружинные тестовые зонды ICT FCT для печатных плат серии GKS-100

Получите самую лучшую цену

Свяжитесь мы

Контакт теперь

Характер продукции

Gold Plated Spring Loaded Thimble Pogo Pins Probes Header Target Connector Through Hold PCB Test Pin

Product Features

High quality material: Copper material with gold plating, smooth surface finish enhances mechanical properties
Stable structure: Flat bottom design for easy welding and reliable conductive connections
Durable construction: High hardness and good toughness for extended service life
Precise dimensions: Total length: 9mm | Tube length: 6.5mm | Needle: 2.5mm
Wide applications: Ideal for semiconductor devices, mobile phones, communications, automotive, aerospace and other precision electronic connections

Test Probe Selection Guide

While test probes are available from many manufacturers, they share similar design constraints. The most critical selection factor is choosing the appropriate tip style for your application.

Common tip configurations include: